{"product_id":"ieej-ect09060","title":"初歩的な集積回路のレイアウト設計及び検証環境の構築","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eECT09060\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【C】電子･情報･システム部門　電子回路研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2009\/06\/11\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eThe layout design of a preliminary integrated circuit and construction of its verification environment\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e田中 航介(広島工業大学),川上 尚孝(広島工業大学),山田 明宏(ALSIデザイン),田中 武(広島工業大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eKosuke Tanaka(A.LSI design company),Naotaka Kawakami(A.LSI design company),Akihiro Yamada(A.LSI design company),Takeshi Tanaka(Hiroshima Institute of Technology)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eLSI設計教育|レイアウト設計|回路検証|Large Scale Integrated circuit design education|layout design|circuit verification\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e830 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 7","offer_id":46362240319727,"sku":"IEEJ-ECT09060-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_d1d220eb-5af9-4463-a322-3c08682dc5c5.png?v=1743623518","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-ect09060","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}