{"product_id":"ieej-ect09093","title":"MOSトランジスタミスマッチと差動利得ばらつきに関する一考察","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eECT09093\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【C】電子･情報･システム部門　電子回路研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2009\/10\/29\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eA Design Consideration for Minimizing Variation in Differential Gain\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e長谷川 健(諏訪東京理科大学),青木 正和(諏訪東京理科大学),山脇 大造(日立製作所中央研究所),田中 聡(日立製作所中央研究所)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eKen Hasegawa(Tokyo University of Science,Suwa),Masakazu Aoki(Tokyo University of Science,Suwa),Taizo Yamawaki(Central Research Lab.,Hitachi Ltd.),Satoshi Tanaka(Central Research Lab.,Hitachi Ltd.)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e差動利得ばらつき|MOSトランジスタミスマッチ|しきい値電圧ばらつき|電流ファクタばらつき|variation in differential gain|MOS transistor mismatch|threshold voltage variation|current factor variation\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e461 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 8","offer_id":46362259423471,"sku":"IEEJ-ECT09093-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_f5e83d18-f183-4512-a371-28e162a3455b.png?v=1743623662","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-ect09093","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}