{"product_id":"ieej-ect10007","title":"インバータ遅延時間ばらつき解析","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eECT10007\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【C】電子・情報・システム部門 電子回路研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2010\/01\/21\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eVariability Analysys of Inverter Delay Time\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e板山 敬祐(諏訪東京理科大学),長谷川 健(諏訪東京理科大学),青木 正和(諏訪東京理科大学),山脇 大造(日立製作所中央研究所),田中 聡(日立製作所中央研究所)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eItayama Keisuke(Tokyo University of Science,Suwa),Hasegawa Ken(Tokyo University of Science,Suwa),Aoki Masakazu(Tokyo University of Science,Suwa),Yamawaki Taizo(Hitachi Ltd.),Tanaka Satoshi(Hitachi Ltd.)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003eチップ内デバイスばらつきを考慮してインバータ遅延時間ばらつきを実験・理論両面から解析した結果を報告する。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e855 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 5","offer_id":46362437681391,"sku":"IEEJ-ECT10007-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_16db7c7d-80f0-417a-8be1-d27657404a8e.png?v=1743627801","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-ect10007","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}