{"product_id":"ieej-ect11015","title":"アナログ回路における基板雑音の影響に関する考察","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eECT11015\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【C】電子・情報・システム部門 電子回路研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2011\/01\/27\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eA study on the impact of substrate noise in analog circuits\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003eニコデムス レディアン(東京工業大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eNicodimus Retdian(Tokyo Institute of Technology)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e基板雑音|アナログ・ディジタル混載集積回路|substrate noise|mixed-signal integrated circuits\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e本研究ではＭＯＳトランジスタのバルク端子から乱入する基板雑音によるドレイン電流の変化を解析し、それをもとに様々なアナログ回路ブロックにおける基板雑音の影響を示す。計算機シミュレーションを用いて理論解析結果の検証を行う。また、解析が困難な発振回路においては、リング発振回路を用いてシミュレーションを行い、基板雑音とジッター特性の関係を示す。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(英語): \u003c\/strong\u003eThis paper will discuss the impact of substrate noise on various analog circuits to provide a better understanding on the problem. The validity of analysis results will be demonstrated by simulation results.\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e1,018 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 6","offer_id":46362594148591,"sku":"IEEJ-ECT11015-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_3ada1699-74e3-4398-b833-9374867c799c.png?v=1743631779","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-ect11015","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}