{"product_id":"ieej-ect12014","title":"0.5V駆動アナログ増幅回路におけるサブスレッショルド領域のみでの温度補償法の検討","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eECT12014\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【C】電子・情報・システム部門 電子回路研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2012\/01\/20\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eA Study of Temperature Compensation Method using Only Subthreshold Region for 0.5V CMOS Analog Amplifier\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e森 隆司(山形大学),原田 知親(山形大学),奥山 澄雄(山形大学),松下 浩一(山形大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eMori Takashi(Yamagata University),Harada Tomochika(Yamagata University),Okuyama Sumio(Yamagata University),Matsushita Koichi(Yamagata University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eサブスレッショルド領域|極低電圧動作|温度補償法|温度変化|subthreshold region|ultra-low voltage operation|temperature compensation method|temperature change\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e本研究では、MOSFETのサブスレッショルド電流で駆動する、0.5V駆動折り返しカスコード型アナログ増幅回路において、温度変化による回路の特性をサブスレッショルド領域のみを用いて補償する手法を検討した。また、0.18μm CMOSプロセスを用いて回路設計し、HSPICEで解析したところ、サブスレッショルド領域のみを用いて温度変化による回路の特性を補償できることがわかった。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e669 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 6","offer_id":46362560823535,"sku":"IEEJ-ECT12014-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_d92d7bdd-3e23-4b2f-8432-1da866f3e006.png?v=1743630135","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-ect12014","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}