{"product_id":"ieej-ect13033","title":"パッチクランプ測定システムのLSI化に向けた回路試作","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eECT13033\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【C】電子・情報・システム部門 電子回路研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2013\/03\/07\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eA Prototyping of Patch-Clamp Measurement System for LSI circuit design\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e川島 拓也(慶應義塾大学),中山 渉(慶應義塾大学),安田 陽平(慶應義塾大学),大野 隆一(慶應義塾大学),中野 誠彦(慶應義塾大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eKawashima Takuya(Keio University),Nakayama Wataru(Keio University),Yasuda Yohei(Keio University),Ohno Ryuichi(Keio University),Nakano Nobuhiko(Keio University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eパッチクランプ|抵抗補償|容量補償|Patch-Clamp|Resistance-Compensation|Capacitance-Compensation\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e神経細胞の解析手段として細胞のイオン電流を測定できるパッチクランプ測定法があり、今後の研究のためにシステムの小型化が必要とされている。本研究では0.18μmCMOSプロセスを用いたシステム用LSIと、ディスクリート部品で試作設計したシステムの動作を比較し、LSI回路設計に求められる性能を検討した。LSIチップを用いた基板がノイズの影響を受けやすいものであったため、評価系の改善が必要である。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(英語): \u003c\/strong\u003eThe Patch-Clamp Measurement, which can measure ion-channel current of membrane, is one of the way to analyze the neuron and its measurement system is required to be minimized. We designed and compared measurement system using 0.18μm CMOS process with a system using discrete parts. The designed system has enough performance to compensate parasitics.\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e1,463 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 6","offer_id":46362736885999,"sku":"IEEJ-ECT13033-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_cceafaf1-0a4e-4e3d-9346-925297b0567a.png?v=1743637738","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-ect13033","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}