{"product_id":"ieej-ect13036","title":"RFアナログ回路設計のためのNominal CMOSスキューイング手法","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eECT13036\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【C】電子・情報・システム部門 電子回路研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2013\/03\/07\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eA CMOS Nominal Target Skewing Method for RF Analog Circuit Design\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e青木 均(モーデック,群馬大学),小林 春夫(群馬大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eAoki Hitoshi(MoDeCH Inc. \u0026amp; Gunma University),Kobayashi Haruo(Gunma University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e統計モデリング|ＲＦ－ＣＭＯＳ|ターゲットデバイス|ノミナルスキュー|プロセス　テスト|ソフトウエア|Statistical Modeling|RF-CMOS|Device Targeting|Nominal Skewing|Process Test|Software\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003eRFアナログ回路設計でオンウエハーのNominal（最適）特性を持つチップを選択しこれを測定，モデリングできれば，これを使用した最適な回路設計が可能となり，その後のマージン設計へ矛盾なく引き継ぐことがスムーズに行える．本研究ではプロセス電気テストパラメータ・データベースを用い，ターゲットデバイスを特定しそのデバイス特性に近いチップからモデルパラメータを抽出，さらに理想のターゲットデバイス特性にスキューイングする手法を実験し考察する．\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e1,322 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 6","offer_id":46362737213679,"sku":"IEEJ-ECT13036-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_7501862c-be67-4a53-bd40-e8b4909620bd.png?v=1743637761","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-ect13036","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}