{"product_id":"ieej-ect13087","title":"ADC\/DAC のフィボナッチ数列を用いた冗長性設計の検討","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eECT13087\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【C】電子・情報・システム部門 電子回路研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2013\/10\/04\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eADC\/DAC Redundancy Design Using Fibonacci Sequence\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e小林 佑太朗(群馬大学),香積 正基(群馬大学),楊 志翔(群馬大学),小林 春夫(群馬大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eKobayashi Yutaro(GUNMA UNIVERSITY),Kazumi Masaki(GUNMA UNIVERSITY),Yang Zhixiang(GUNMA UNIVERSITY),Kobayashi Haruo(GUNMA UNIVERSITY)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eフィボナッチ数列|ＡＤＣ|ＤＡＣ|冗長性|校正　|Fibonacci sequence|ADC|DAC|redundancy|calibration\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003eフィボナッチ数列を用いて、冗長アルゴリズム逐次比較近似ＡＤＣ設計および冗長性をもったＤＡＣの校正法を検討したので報告する。 \u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(英語): \u003c\/strong\u003eThis paper describes ADC\/DAC design and calibration using Fibonacci sequence.\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e1,907 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 7","offer_id":46362740883695,"sku":"IEEJ-ECT13087-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_e2d8be0f-9017-49a1-90be-ef83c935076d.png?v=1743637987","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-ect13087","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}