{"product_id":"ieej-ect14016","title":"ΔΣ変調における積分器のリークによるアイドルトーンの抑制とS\/N劣化の検討","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eECT14016\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【C】電子・情報・システム部門 電子回路研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2014\/01\/23\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eA study of avoiding idle tone and assuring SNR performance by integrator leakage in delta-sigma modulation\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e牧嶋 亮(青山学院大学),松谷 康之(青山学院大学),井岡 惠理(青山学院大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eRyo Makishima(Graduate school of Aoyama Gakuin University),Yasuyuki Matsuya(Graduate school of Aoyama Gakuin University),Eri Ioka(Aoyama Gakuin University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e以前の我々の研究で2次ΔΣ変調器において、ディザ信号を用いずにアイドルトーンを抑制するために積分器のリークを変化させることが有効であることを明らかにしたが、S\/Nは劣化した。したがって、本研究では高いS\/Nとトーンの抑制を両立させるために帰還率を変化させた場合のS\/Nについて検証した。その結果、パラメータの組み合わせにより、無信号入力時でもトーンを抑制し、S\/N劣化を3[dB]以内に抑えた。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e1,144 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 4","offer_id":46362831126767,"sku":"IEEJ-ECT14016-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_05b4b3f3-5523-4822-913f-4d866e7d05ad.png?v=1743640816","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-ect14016","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}