{"product_id":"ieej-ed05099","title":"部分放電識別手法と有害レベルの定量化の検討(その2) -絶縁物内部欠陥の劣化進展とPDパターンの関係-","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eED05099\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【A】基礎・材料・共通部門　放電研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2005\/11\/09\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eStudy on Classification Methods and Quantification for Partial Discharge (PartII)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e宮下 信(三菱電機株式会社),井波 潔(三菱電機株式会社),青野 一朗(三菱電機株式会社)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eMakoto Miyashita(Mitsubishi Electric Corp.),Kiyoshi Inami(Mitsubishi Electric Corp.),Kazuaki Aono(Mitsubishi Electric Corp.)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e部分放電|エポキシ絶縁物|クラック|劣化|トリー|PD パターン\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e1,346 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 9","offer_id":46361664225519,"sku":"IEEJ-ED05099-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_ecdb10ce-908e-4b24-8e82-71fbd2c4462c.png?v=1743610581","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-ed05099","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}