{"product_id":"ieej-ed05149","title":"真空ナノエレクトロニクス素子の切片傾きチャートによる解析","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eED05149\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【A】基礎・材料・共通部門　放電研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2005\/12\/08\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eSeppen-Katamuki Analysis of Vacuum Nano electronics Devices\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e後藤 康仁(京都大学大学院工学研究科電子工学専攻),辻 博司(京都大学大学院工学研究科電子工学専攻),石川 順三(京都大学大学院工学研究科電子工学専攻)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eYasuhito Gotoh(Department of Electronic Science and Engineering,Kyoto University),Hiroshi Tsuji(Department of Electronic Science and Engineering,Kyoto University),Junzo Ishikawa(Department of Electronic Science and Engineering,Kyoto University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e真空ナノエレクトロニクス素子|電子放出特性|ファウラーノルドハイムプロット|切片傾きチャート|仕事関数|先端曲率半径\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e925 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 8","offer_id":46361667010799,"sku":"IEEJ-ED05149-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_c52d77a2-3e61-4b44-9a7e-252290f03b36.png?v=1743610801","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-ed05149","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}