{"product_id":"ieej-ed07137","title":"数値最適化法を用いた電子スウォーム法による断面積推定における実測輸送係数に含まれる誤差の影響","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eED07137\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【A】基礎・材料・共通部門　放電研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2007\/09\/13\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eThe influence of errors included in measured swarm data in estimation of cross sections by electron swarm method using numerical optimization\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e小川 翔(慶應義塾大学),光浪孝貴 (慶應義塾大学),中村 義春(慶應義塾大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eSho Ogawa(Keio University),Kouki Mitsunami(Keio University),Yoshiharu Nakamura(Keio University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e電子衝突断面積|電子スウォーム法|シンプレックスアルゴリズム|シミュレーテッドアニーリング|電子輸送特性|cross section|electron swarm method|simplex algorithm|simulated annealing|electron transport coefficient\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e394 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 8","offer_id":46361995772143,"sku":"IEEJ-ED07137-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_34e28b84-7f54-4512-ac22-e2ee1e2903ba.png?v=1743617221","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-ed07137","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}