{"product_id":"ieej-ed08075","title":"回路開閉現象研究のマイクロラボ構想と研究状況","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eED08075\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【A】基礎・材料・共通部門　放電研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2008\/06\/24\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eConcept of micro circuit interrupting phenomenon research laboratory\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e池田 久利(九州工業大学),原田 克彦(九州工業大学),大塚信也 (九州工業大学),匹田 政幸(九州工業大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eHisatoshi Ikeda(Kyushu Institute of Technology),Katsuhiko Harada(Kyushu Institute of Technology),Shinnya Ohtsuka(Kyushu Institute of Technology),Masayuki Hikita(Kyushu Institute of Technology)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e回路開閉現象|大学での研究|マイクロマシーン|加速度センサ|遮断器|変圧器通過故障|変圧器モデル|漏れインダクタンス|漏れキャパシタンス|Circuit interrupting phenomenon|University research|MEMS|Acceleration sensor|Circuit breaker|Transformer limited fault|Trans\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e643 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 8","offer_id":46362110820591,"sku":"IEEJ-ED08075-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_719dd2f9-c704-4b3f-be8e-b97884dcda66.png?v=1743620598","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-ed08075","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}