{"product_id":"ieej-ed08081","title":"エッチドヒューズの特性改善と遮断現象","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eED08081\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【A】基礎・材料・共通部門　放電研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2008\/06\/24\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eImprovement of the Etched Fuse Performance and Interruption Phenomenon\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e石川 雄三(根本特殊化学),浅山 三夫(埼玉大学),広瀬 健吾(埼玉大学),山納 康(埼玉大学),小林 信一(埼玉大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eYuzo Ishikawa(Nemoto \u0026amp; Co.,Ltd),Mitsuo Asayama(Saitama University),Kengo Hirose(Saitama University),Yasushi Yamanou(Saitama University),Shinichi Kobayashi(Saitama University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eヒューズ|エッチドヒューズ|遮断特性|半導体保護|fuse|etched fuse|current interruption|semiconductor protection\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e559 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 7","offer_id":46362111049967,"sku":"IEEJ-ED08081-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_6fb9354a-acd5-4069-bfab-d2e0d697a7c1.png?v=1743620617","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-ed08081","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}