{"product_id":"ieej-ed09020","title":"遮断器模擬試験装置を用いた加速度測定","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eED09020\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【A】基礎･材料･共通部門 放電研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2009\/01\/31\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eAcceleration Measurement with Test Equipment of Simulating Circuit Breaker\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e川内 伸也(九州工業大学),池田 久利(九州工業大学),原田 克彦(九州工業大学),大塚 信也(九州工業大学),匹田 政幸(九州工業大学),永田 寿一(東芝),岩本 勝治(東芝)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eKawachi Shinya(Kyushu Insititute of Technology),Ikeda Hisatoshi(Kyushu Insititute of Technology),Harada Katsuhiko(Kyushu Insititute of Technology),Ohtsuka Shinya(Kyushu Insititute of Technology),Hikita Masayuki(Kyushu Insititute of Technology),Nagata Toshikazu(Toshiba),Iwamoto Katsuharu(Toshiba)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e診断|加速度測定|遮断器|試験装置|ＭＥＭＳ加速度センサー|圧電型加速度センサー|diagnosis|acceleration measurement|circuit breaker|test equipment|MEMS sensor|piezoelectric sensor\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e3,616 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 9","offer_id":46362305855727,"sku":"IEEJ-ED09020-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_28055794-48f5-4373-8823-5c8926abef92.png?v=1743624221","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-ed09020","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}