{"product_id":"ieej-ed09108","title":"周波数シフトプローブを用いた電子状態のモニタリング","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eED09108\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【A】基礎･材料･共通部門　放電研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2009\/08\/08\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eElectron Monitoring with Frequency Shift Probe\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e中村圭二 (中部大学),金徐州 (中部大学),張祺 (中部大学),菅井秀郎 (中部大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eK.Nakamura (Chubu University),J.Xu (Chubu University),Q.Zhang (Chubu University),H.Sugai (Chubu University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e周波数シフトプローブ|マイクロ波共振プローブ|電子密度|電子衝突周波数|大気圧プラズマ|Frequency shift probe|Microwave resonator probe|electron density|Electron collision frequency|Atmospheric pressure plasma\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e692 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 8","offer_id":46362346258671,"sku":"IEEJ-ED09108-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_d1adfed7-967f-4e82-8757-2f6feca5c2ee.png?v=1743624626","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-ed09108","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}