{"product_id":"ieej-ed11130","title":"コンデンサバンク開閉試験法の開発","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eED11130\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【A】基礎・材料・共通部門 放電研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2011\/11\/10\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eDevelopment of switching test method for capacitor bank\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e種子田 賢宏(東芝),工藤 喜悦(東芝),宮崎 健作(東芝),森 正(東芝)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eTaneda Takahiro(Toshiba corporation),Kudo kietu(Toshiba corporation),Miyazaki Kensaku(Toshiba corporation),Mori Tadashi(Toshiba corporation)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eコンデンサバンク|合成試験|capacitor bank|synthetic test\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003eIEC規格のコンデンサバンク用開閉装置の試験責務において、日本国内では問題視されていないback-to-backコンデンサバンク開閉試験責務が規定されている。特にBC2責務においては突入電流の値についても規定され、波高値が大きい、高周波であるといった特徴がある。今回、245(kV)開閉装置を対象とし合成試験法を用い単相試験によるコンデンサバンク開閉試験を有負荷CO操作で行ったので紹介する。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e541 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 4","offer_id":46362615709935,"sku":"IEEJ-ED11130-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_eb1e189b-5e8d-4481-805e-7ce9781eeda2.png?v=1743633112","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-ed11130","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}