{"product_id":"ieej-ed17008","title":"SF6減衰アーク内の電子密度測定に向けた空間フィルター付きシャックハルトマンセンサーの開発","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eED17008\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【A】基礎・材料・共通部門 放電研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2017\/01\/27\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eDevelopement of Spatial-Filter-Installed Shack-Hartmann Sensor for Electron Density Measurement of SF6-Gas Decaying Arc\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e山口 正太郎(東京大学),永井 裕之(東京大学),熊田 亜紀子(東京大学),日高 邦彦(東京大学),稲田 優貴(埼玉大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eShotaro Yamaguchi(The University of Tokyo),Hiroyuki Nagai(The University of Tokyo),Akiko Kumada(The University of Tokyo),Kunihiko Hidaka(The University of Tokyo),Yuki Inada(Saitama University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e遮断器|アーク|減衰アーク|ＳＦ６|電子密度|シャックハルトマン|Circuit Breaker|Arc Discharge|Decaying Arc|SF6-Gas|Electron Density|Shack-Hartmann\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003eより効率的で環境負荷の少ない遮断器開発にあたってはアーク自体の詳細計測が必要不可欠である。そこで本研究グループでは二次元電子密度分布一括測定が可能であるシャックハルトマン型センサーの開発、適用を行ってきたが、ＳＦ６中アークに際してはその乱流によるデータ取得率低下が問題であった。本論文では安定した取得によるアーク特性の定量的評価を可能にするべく、本センサーに空間フィルターを適用したので報告する。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(英語): \u003c\/strong\u003eWe have previously developed Shack-Hartmann (SH) type laser wavefront sensors for measuring two-dimensional electron density distributions over arc discharges in SF6 gas. However, the arc discharges in SF6 gas induce strong turbulence flow, which significantly distorts the wavefronts of the probing lasers and makes it difficult to achieve precise measurement of the electron densities in the SF6-arcs. In this paper, we introduce spatial filter to solve this issue and evaluate its influence on spatial resolution and accuracy of measuring system.\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e5,361 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 6","offer_id":46362968490223,"sku":"IEEJ-ED17008-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_cfef67f5-9e16-44d1-bacd-845a03612c41.png?v=1743646994","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-ed17008","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}