{"product_id":"ieej-edd05038","title":"超高速IC用InPHEMTデバイス･プロセス技術","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eEDD05038\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【C】電子・情報・システム部門　電子デバイス研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2005\/03\/10\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eDevice and Fabrication Process Technologies of InP HEMT for Ultra High-Speed Ics\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e原 直紀(富士通研究所),牧山 剛(富士通研究所),高橋 (富士通研究所),今西 健(富士通研究所),多木 俊裕(富士通研究所),岡本 直哉(富士通研究所)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eNaoki Hara(Fujitsu Laboratories Ltd.),Kozo Makiyama(Fujitsu Laboratories Ltd.),Tsuyoshi Takahashi(Fujitsu Laboratories Ltd.),Kenji Imanishi(Fujitsu Laboratories Ltd.),Toshihiro Ohki(Fujitsu Laboratories Ltd.),Naoya Okamoto(Fujitsu Laboratories Ltd.)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eInPHEMT|超高速IC|均一性|歩留り|寄生容量|信頼性\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e844 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 7","offer_id":46361643516143,"sku":"IEEJ-EDD05038-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_dc201a39-1a45-4468-b69a-d0c502a74ccd.png?v=1743609297","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-edd05038","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}