{"product_id":"ieej-edd05064","title":"IGBT特性の一軸性機械的応力依存性","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eEDD05064\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【C】電子・情報・システム部門　電子デバイス研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2005\/10\/28\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eImpact of uni-axial mechanical stress on IGBT characteristics\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e桑野 聡(トヨタ自動車),堀田 幸司(トヨタ自動車),橋本 雅人(トヨタ自動車),臼井 正則(豊田中央研究所),石子 雅康(豊田中央研究所)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eSatoshi Kuwano(Toyota Motor Corporation),Koji Hotta(Toyota Motor Corporation),Masato Hashimoto(Toyota Motor Corporation),Masanori Usui(Toyota Central R\u0026amp;D Labs.,Inc.),Masayasu Ishiko(Toyota Central R\u0026amp;D Labs.,Inc.)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e機械的応力|絶縁ゲート型バイポーラトランジスタ|ポテンシャル変形モデル|ピエゾ抵抗効果モデル|Mechanical stress|Insulated Gate Bipolar Transistor|Deformation potential model|Piezoresistive effect model\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e585 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 8","offer_id":46361645089007,"sku":"IEEJ-EDD05064-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_0ce7a788-939a-4e9f-bfa0-76f8995186df.png?v=1743609407","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-edd05064","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}