{"product_id":"ieej-edd06064","title":"Heイオン照射を用いたPiNダイオードにおけるダイナミックアバランシェ現象の解析","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eEDD06064\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【C】電子・情報・システム部門　電子デバイス研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2006\/10\/24\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eAnalysis of dynamic avalanche phenomenon of PiN diode using He ion irradiation\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e三角 忠司(トヨタ自動車),中垣 真治(トヨタ自動車),西脇 克彦(トヨタ自動車),山口 正一(東芝セミコンダクター社),平原 文雄(東芝セミコンダクター社)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eTadashi Misumi(Toyota Motor Corporation),Shinji Nakagaki(Toyota Motor Corporation),Katsuhiko Nishiwaki(Toyota Motor Corporation),Masakazu Yamaguchi(Semiconductor Company,Toshiba Corporation),Fumio Hirahara(Semiconductor Company,Toshiba Corporation)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eハイブリッド自動車|PiNダイオード|Heイオン照射|ダイナミックアバランシェ現象|正孔トラップ準位|Hybrid Vehicle|PiN diode|He ion irradiation|dynamic avalanche phenomenon|hole trap level\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e794 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 10","offer_id":46361712820463,"sku":"IEEJ-EDD06064-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_62296273-fa98-471e-a973-940ee040ed8c.png?v=1743612803","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-edd06064","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}