{"product_id":"ieej-edd07076","title":"trr測定によるトレンチ埋め込みスーパージャンクション構造のボイド検出法","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eEDD07076\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【C】電子・情報・システム部門　電子デバイス研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2007\/10\/25\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eDependence of Electrical Properties of Super Junction Diode on Voids within Trench-refill Region\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e北田 瑞枝(新電元工業),九里 伸治(新電元工業),黒崎 徹(新電元工業)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eMizue Kitada(Shindengen Electric Mfg.Co.,Ltd.),Shinji Kunori(Shindengen Electric Mfg.Co.,Ltd.),Toru Kurosaki(Shindengen Electric Mfg.Co.,Ltd.)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eスーパージャンクション|トレンチ埋め込み法|ボイド|trr測定|再結合中心|Super junction|SJ|trench-refill method|void|trr|recombination center\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e861 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 9","offer_id":46361904906479,"sku":"IEEJ-EDD07076-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_8a7457bb-0e4d-4f81-b423-caa38561018a.png?v=1743615958","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-edd07076","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}