{"product_id":"ieej-edd07079","title":"マイクロ波測定技術のパワー素子への適用検討～TDRとネットワークアナライザによる寄生LCRの測定～","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eEDD07079\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【C】電子・情報・システム部門　電子デバイス研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2007\/10\/25\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eA study of power device parasitic LCR measurement with TDR and network analyzer\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e池田 佳子(東芝セミコンダクター社),大村一郎 (東芝セミコンダクター社)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eYoshiko Ikeda(Toshiba Corp. Semiconductor Company),Ichiro Omura(Toshiba Corp. Semiconductor Company)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eパワー半導体|パッケージ|寄生インダクタンス|TDR|ネットワークアナライザ|power semiconductor device|package|parasitic inductance|TDR|network analyzer\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e680 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 8","offer_id":46361906348271,"sku":"IEEJ-EDD07079-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_9f1e4d8c-c585-40af-b7a8-bb5879d6dcac.png?v=1743615980","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-edd07079","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}