{"product_id":"ieej-edd08039","title":"モンテカルロ計算によるゲート制御ホットエレクトロントランジスタの遮断周波数解析","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eEDD08039\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【C】電子・情報・システム部門　電子デバイス研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2008\/03\/06\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eCutoff frequency analysis of gate-controlled hot electron transistors by Monte Carlo calculation\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e宮本 恭幸(東工大・JST-CREST),五十嵐 満彦(東工大),山田 朋宏(東工大),上澤岳史 (東工大),古屋 一仁(東工大・JST-CREST)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eYasuyuki Miyamoto(Tokyo Tech,JST-CREST),Mitsuhiko Igarashi(Tokyo Tech),Tomohiro Yamada(Tokyo Tech),Takafumi Uesawa(Tokyo Tech),Kazuhito Furuya(Tokyo Tech,JST-CREST)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eInP\/InGaAs|バリスティック電子|ホットエレクトロントランジスタ|モンテカルロ計算|絶縁ゲート|InP\/InGaAs|ballistic electron|hot electron transistors|Monte Carlo simulation|insulated gate\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e657 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 9","offer_id":46362095485167,"sku":"IEEJ-EDD08039-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_bd1578ea-74cd-4779-b50e-71ec99a0fa4a.png?v=1743619379","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-edd08039","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}