{"product_id":"ieej-edd08046","title":"He照射を用いたPiNダイオードのダイナミックアバランシェ現象とCiOi欠陥の相関","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eEDD08046\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【C】電子・情報・システム部門　電子デバイス研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2008\/10\/23\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eA Study of Correlation between CiOi Defects and Dynamic Avalanche Phenomenon of PiN Diode Using He ion Irradiation\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e丹羽 史和(トヨタ自動車),三角 忠司(トヨタ自動車),山崎信也 (トヨタ自動車),杉山隆英 (豊田中央研究所),金田哲弥 (トヨタ自動車),西脇克彦 (トヨタ自動車)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eFumikazu Niwa(Toyota Motor Corporation),Tadashi Misumi(Toyota Motor Corporation),Shinya Yamasazaki(Toyota Motor Corporation),Tetsuya Kanata(Toyota Motor Corporation),Katsuhiko Nishiwaki(Toyota Motor Corporation),Takahide Sugiyama(Toyota Central R\u0026amp;D Labs.,Inc.)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eハイブリッド自動車|PiNダイオード|Heイオン照射|ダイナミックアバランシェ現象|CiOi欠陥|Hybrid Electric Vehicle|PiN diode|He ion irradiation|Dynamic avalanche phenomenon|CiOi defects\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003eライフタイム制御を用いたPiNダイオードでは、低温・高電圧条件下においてダイナミックアバランシェ現象が発生することが知られている。本現象が発生するとスイッチング損失の増加及び電圧・電流波形に発振が生じる。　我々はDLTS法を用いてダイナミックアバランシェ現象がEv+0.35eVに誘起する正孔トラップ準位と関連があることを確認した。また、その正孔トラップ準位を形成する欠陥がシリコンウェーハ中に存在するCiOiであることをCL法を用いて明らかにした。　シリコンウェーハ中のCiOi量を制御することで、我々はダイ\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(英語): \u003c\/strong\u003e Our research has shown that dynamic avalanche phenomenon is related to the hole trap level that is induced at an energy level of Ev+0.35eV. In this study we will describe how we used the DLTS (Deep Level Transient Spectroscopy) method and CL (Cathodo Lum\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e538 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 7","offer_id":46362095845615,"sku":"IEEJ-EDD08046-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_a931eb75-8245-47db-94d4-2017c6ef18e3.png?v=1743619425","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-edd08046","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}