{"product_id":"ieej-edd09058","title":"波形振動を抑制する高耐圧ダイオードのダイナミック･パンチスルー設計","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eEDD09058\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【C】電子･情報･システム部門　電子デバイス研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2009\/10\/29\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eDynamic Punch-Through Design of High-Voltage Diode for Suppression of Waveform Oscillation\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e附田 正則(東芝),崎山 陽子(東芝),二宮 英彰(東芝),山口 正一(東芝)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eMasanori Tsukuda(Toshiba),Yoko Sakiyama(Toshiba),Hideaki Ninomiya(Toshiba),Masakazu Yamaguchi(Toshiba)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e波形振動|高耐圧ダイオード|ダイナミック･パンチスルー|サージ電圧|逆回復損失|蓄積キャリア|ライフタイムコントロール|キャリア分布|パンチスルー位置|Waveform oscillation|High-voltage diode|Dynamic punch-through|Surge voltage|Reverse recovery loss|Stored carrier|Lifetime control|Carrier profile|Punch-through position\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e677 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 7","offer_id":46362170622191,"sku":"IEEJ-EDD09058-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_efbc63d1-27be-436b-b356-151aa0dbaa8a.png?v=1743623161","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-edd09058","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}