{"product_id":"ieej-edd09067","title":"SOI BiC-DMOSにおけるパルスホットキャリア評価の必要性","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eEDD09067\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【C】電子･情報･システム部門　電子デバイス研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2009\/10\/30\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eNecessity of Pulse Hot Carrier Evaluation in Suppressing Self-Heating Effect for SOI Smart Power\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e新田 哲也(ルネサステクノロジ),五十嵐 孝行(ルネサステクノロジ),畑迫健一 (ルネサステクノロジ),黒井 隆(ルネサステクノロジ),前川繁登 (ルネサステクノロジ),古谷 啓一(ルネサスセミコンダクタエンジニアリング),片山 俊治(ルネサスセミコンダクタエンジニアリング)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eTetsuya Nitta(Renesas Technology),Takayuki Igarashi(Renesas Technology),Kenichi Hatasako(Renesas Technology),Takashi Kuroi(Renesas Technology),Shigeto Maegawa(Renesas Technology),Keiichi Furuya(Renesas Semiconductor Engineering),Toshiharu Katayama(Renesas Semiconductor Engineering)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eホットキャリア|自己発熱|SOI|横型DMOS|Hot Carrier|Self-Heating|SOI|LDMOS\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e876 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 9","offer_id":46362175308015,"sku":"IEEJ-EDD09067-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_532423af-aae0-4716-9eaf-03513b5262c0.png?v=1743623187","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-edd09067","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}