{"product_id":"ieej-edd16039","title":"SiCパワーデバイスの高信頼ターミネーション技術","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eEDD16039\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【C】電子・情報・システム部門 電子デバイス研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2016\/03\/28\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eTermination Technology of SiC Devices for High Reliability\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e小野瀬 秀勝(株式会社　日立製作所　),松島 宏之(株式会社　日立製作所),沖野 泰之(株式会社　日立製作所),望月 和浩(株式会社　日立製作所),山田 廉一(株式会社　日立製作所),平尾 高志(株式会社　日立製作所),森 睦宏(株式会社　日立製作所)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eHidekatsu Onose(Hitachi, ltd.),Hiroyuki Matsushima(Hitachi, ltd.),Hiroyuki Okino(Hitachi, ltd.),Kazuhiro Mpchizuki(Hitachi, ltd.),Renichi Yamada(Hitachi, ltd.),Takashi Hirao(Hitadhi, Ltd.),Mutsuhiro Mori(Hitachi, ltd.)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eＳｉＣ|ターミネーション|高耐圧|信頼性\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e高耐圧デバイスの信頼性向上のため、DC電圧ストレスの影響を解析した。空乏層容量測定により，SiC\/SiO2界面における正電荷がアバランシェ電圧変動の要因であることを明らかにした。新しいターミネーション構造を提案し、1000時間のバイアス試験後もリーク電流が変動しないことを確認した\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(英語): \u003c\/strong\u003eDC bias stressing immunity of SiC power device was analyzed for high reliability. Measuring Depletion-layer Capacitance (MDC) technique revealed that positive charge density increase at SiO2\/SiC interface of termination area caused an avalanche voltage degradation. The new termination structure was proposed and a stable avalanche voltage after 1000 hr bias stressing was successfully demonstrated.\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e692 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 5","offer_id":46362912817391,"sku":"IEEJ-EDD16039-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_17b1b12c-fbb1-436c-9075-62d230e16e3c.png?v=1743644360","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-edd16039","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}