{"product_id":"ieej-efm06013","title":"カーボンナノチューブの低エネルギー照射損傷","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eEFM06013\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【C】電子・情報・システム部門　電子材料研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2006\/09\/22\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eLow-Energy Irradiation Damage in Carbon Nanotubes\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e鈴木 哲(ＮＴＴ物性科学基礎研究所),小林 慶裕(ＮＴＴ物性科学基礎研究所)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eSatoru Suzuki(NTT Basic Research Laboratories),Yoshihiro Kobayashi(NTT Basic Research Laboratories)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eカーボンナノチューブ|電子照射損傷|光照射損傷|欠陥生成|欠陥修復|ラマン散乱|フォトルミネッセンス|電気伝導度|直径依存性\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e1,092 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 8","offer_id":46361749946607,"sku":"IEEJ-EFM06013-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_dd83718a-8f1c-40c9-97ac-72fa4d4993d2.png?v=1743613508","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-efm06013","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}