{"product_id":"ieej-efm08026","title":"SiGe HBT ECL位相周波数比較器を用いたKu帯低雑音PLL","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eEFM08026\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【C】電子・情報・システム部門　電子材料研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2008\/09\/27\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eA Ku-band Low Noise PLL using SiGe HBT ECL Phase Frequency Detector\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e堤 恒次(三菱電機),小牧 昌彦(三菱電機),末松 憲治(三菱電機)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eKoji Tsutsumi(Mitsubishi Electric),Masahiko Komaki(Mitsubishi Electric),Noriharu Suematsu(Mitsubishi Electric)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e位相同期ループ|位相周波数比較器|エミッタカップルドロジック|フリッカ雑音|1\/f雑音|Phase Locked Loop|Phase Frequency Detector|Emitter Coupled Logic|flicker noise|1\/f noise\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e606 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 8","offer_id":46362055508207,"sku":"IEEJ-EFM08026-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_446bb29e-d3d1-490e-8b66-dc43bedb022b.png?v=1743618017","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-efm08026","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}