{"product_id":"ieej-efm09028","title":"IGBT縦構造への薄ウエハプロセス技術を用いたLPT(II)コンセプトの有効性","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eEFM09028\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【C】電子･情報･システム部門　電子材料研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2009\/10\/29\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eImpact of an LPT(II)Concept with Thin Wafer Process Technology for IGBT's Vertical Structure\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e中村 勝光(三菱電機),大宅 大介(三菱電機),斉藤省二 (三菱電機),幡手一成 (三菱電機),岡部 博明(三菱電機)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eKatsumi Nakamura(Mitsubishi Electric Corporation),Daisuke Oya(Mitsubishi Electric Corporation),Shoji Saito(Mitsubishi Electric Corporation),Kazunari Hatade(Mitsubishi Electric Corporation),Hiroaki Okabe(Mitsubishi Electric Corporation)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eLight Punch-Through|LPT（II）|ライフタイム|トレードオフ特性|安全動作領域|破壊メカニズム|Light Punch-Through|LPT(II)|lifetime|trade-off characteristic|safety operating area|destruction failure mechanism\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e801 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 9","offer_id":46362278297839,"sku":"IEEJ-EFM09028-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_e431c429-d0d5-41cb-9b58-e90ad6bb9d7f.png?v=1743623837","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-efm09028","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}