{"product_id":"ieej-efm09037","title":"磁界プローブによるVRMボード表面実装パワーMOSFETの非破壊電流測定法","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eEFM09037\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【C】電子･情報･システム部門　電子材料研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2009\/10\/30\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eNon-Destructive Current Measurement for Surface Mounted Power MOSFET on VRM board using Magnetic field probing technique\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e池田 佳子(東芝セミコンダクター社),山口 好広(東芝セミコンダクター社),川口 雄介(東芝セミコンダクター社),山口 正一(東芝セミコンダクター社),大村一郎 (現：九州工業大学),土門 知一(東芝ビジネス＆ライフサービス)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eYoshiko Ikeda(Toshiba Corp. Semiconductor Company),Yoshihiro Yamaguchi(Toshiba Corp. Semiconductor Company),Yusuke Kawaguchi(Toshiba Corp. Semiconductor Company),Masakazu Yamaguchi(Toshiba Corp. Semiconductor Company),Ichiro Omura(Current affiliation:Kyushu Institute of Technology),Tomokazu Domon(Toshiba Business \u0026amp; Life Service Corporation)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eパワーMOSFET|VRM|磁界プローブ|表面実装|セルフターンオン|非破壊電流計測|power MOSFET|VRM|Magnetic field probe|Surface Mounted|Self-turn-on|current measurement\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e927 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 7","offer_id":46362281574639,"sku":"IEEJ-EFM09037-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_9484373d-9f04-481a-9e5d-02dd5a373dbb.png?v=1743623878","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-efm09037","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}