{"product_id":"ieej-emc09002","title":"マイクロギャップ放電に伴う広帯域過渡波形の伝送線路損失を用いた一推定法","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eEMC09002\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【A】基礎･材料･共通部門　電磁環境研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2009\/01\/21\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eEstimate method of the very wideband transition duration due to micro gap discharge using a transmission loss of high performance semi-rigid coaxial line.\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e川又 憲(八戸工業大学),高義礼 (名古屋工業大学),嶺岸 茂樹(東北学院大学),藤原 修(名古屋工業大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eKen Kawamata(Hachinohe Institute of Technology),Yoshinori Taka(Nagoya Institute of Technology),Shigeki Minegishi(Tohoku Gakuin University),Osamu Fujiwara(Nagoya Institute of Technology)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eESD|電気接点放電|立ち上り時間|推定|帯域制限|分布定数システム|ESD|discharge|rise time|estimation|band-limiting|distributed constant system\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e372 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 6","offer_id":46362284294383,"sku":"IEEJ-EMC09002-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_0567639a-94a6-4ec3-bece-6e36315b4c30.png?v=1743623926","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-emc09002","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}