{"product_id":"ieej-emc09010","title":"SC77Bにおけるイミュニティ規格の最新動向","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eEMC09010\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【A】基礎･材料･共通部門　電磁環境研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2009\/03\/06\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eRecent Status and Topics of Immunity Standards developed by IEC.SC77B\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e澁谷 昇(拓殖大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eNoboru Schibuya(Takushoku University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e静電気放電試験|放射電磁界試験|電気的高速過渡バースト試験|サージイミュニティ試験|伝導性イミュニティ試験|TEM導波管試験|IEC.SC77B|Electrostatic Discharge Test|Radiated Field Test|EFT.B test|Surge test|Conducted RF test|TEM Cell Test\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e491 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 6","offer_id":46362286457071,"sku":"IEEJ-EMC09010-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_56d40b88-76df-40e6-96d0-2438534637ea.png?v=1743623967","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-emc09010","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}