{"product_id":"ieej-emc09023","title":"暗号モジュールの電磁的な情報漏洩の解析","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eEMC09023\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【A】基礎･材料･共通部門　電磁環境研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2009\/11\/27\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eAn Analysis of Electromagnetic Information Leakage of Cryptographic Modules\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e林 優一(東北大学),菅原 健(東北大学),本間 尚文(東北大学),水木 敬明(東北大学),青木 孝文(東北大学),曽根 秀昭(東北大学),佐藤 証(産業技術総合研究所)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eYu-ichi Hayashi(Tohoku University),Takeshi Sugawara(Tohoku University),Naofumi Homma(Tohoku University),Takaaki Mizuki(Tohoku University),Takafumi Aoki(Tohoku University),Hideaki Sone(Tohoku University),Akashi Satoh(National Institute of Advanced Industrial Science and Technology)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e和文キーワード|コモンモード電流|電磁情報漏洩|消費電力解析|Common-Mode Current|Electromagnetic Information Leakage|Power Analysis\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e791 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 9","offer_id":46362291667183,"sku":"IEEJ-EMC09023-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_afcb2be1-dff5-4b16-b8d5-6efcd7b45ae8.png?v=1743624034","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-emc09023","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}