{"product_id":"ieej-emc10036","title":"情報機器に接続された線路が電磁情報漏洩に与える影響","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eEMC10036\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【A】基礎・材料・共通部門 電磁環境研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2010\/11\/02\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eImpact of the lines attached to information device to electromagnetic information leakage\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e林 優一(東北大学),水木 敬明(東北大学),曽根 秀昭(東北大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eHayashi Yu-ichi(Tohoku University),Mizuki Takaaki(Tohoku University),Sone Hideaki(Tohoku University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e電磁情報漏洩|相互接続|コモンモード電流|Information leakage|interconnection|common-mode current\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e情報機器に代表されるPCなどの複雑なシステムでは、利用環境の多様性から、機器に接続される線路の長さ、接線路の引き回し、線路の終端条件などが異なる事が予想される。本稿では、情報機器を利用する異なる環境下において、違いが生ずると予想されるパラメタとして機器に接続された線路の長さ及び線路の終端条件に着目し、これらの各パラメタが利用環境下で変化した場合、情報漏洩に与える影響について評価を行う。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e1,259 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 6","offer_id":46362462683375,"sku":"IEEJ-EMC10036-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_8a9275a3-d6e2-453b-a92d-95fff72e00d4.png?v=1743628735","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-emc10036","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}