{"product_id":"ieej-emc11002","title":"SNRに基づいた電子機器からの情報取得性に関する基礎的検討","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eEMC11002\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【A】基礎・材料・共通部門 電磁環境研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2011\/03\/24\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eEvaluation of information availability from electronic devices on the basis of SNR\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e林 優一(東北大学),池松 大志(東北大学),水木 敬明(東北大学),本間 尚文(東北大学),青木 孝文(東北大学),曽根 秀昭(東北大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eYuichi Hayashi(Tohoku University),Taishi Ikematsu(Tohoku University),Takaaki Mizuki(Tohoku University),Naofumi Homma(Tohoku University),Takafumi Aoki(Tohoku University),Hideaki Sone(Tohoku University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e電磁情報漏洩|ＳＮＲ|サイドチャネル攻撃|Information leakage|SNR|Side-channel attack\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e近年，電子機器から生ずる非意図的な放射電磁波を通じた情報漏えいが問題となっている。情報漏えいに求められる電磁波抑制は，これまでEMC対策として行われてきた規制値以上の雑音を発生させる部位に対する対策と異なり，情報を含む電磁波を抑制する必要がある。本論文では，暗号ハードウェアから電磁波を通じて漏洩する秘密鍵情報を具体的として取り上げ，SNRに基づき機器から生ずる電磁波を通じた情報漏洩を定量的に評価する。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e4,764 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 5","offer_id":46362605289711,"sku":"IEEJ-EMC11002-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_42831c46-827b-4147-b18f-42531743af01.png?v=1743632461","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-emc11002","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}