{"product_id":"ieej-ewc16014","title":"テラヘルツ分光とイメージングによる低密度ポリエチレン中の過熱部の検出","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eEWC16014\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【B】電力・エネルギー部門 電線・ケ－ブル研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2016\/03\/04\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eDetection of Overheated Parts in Low-density Polyethylene by Terahertz Absorption Spectroscopy and Imaging\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e井筒 智之(早稲田大学),小高 大祐(早稲田大学),香西 拓哉(早稲田大学),小松 麻理奈(早稲田大学),大木 義路(早稲田大学),齊藤 隆志(住友電気工業),山崎 孝則(住友電気工業)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eTomoyuki Izutsu(Waseda University),Daisuke Odaka(Waseda University),Takuya Kozai(Waseda University),Marina Komatsu(Waseda University),Yoshimichi Ohki(Waseda University),Takashi Saitou(Sumitomo Electric Industries),Takanori Yamazaki(Sumitomo Electric Industries)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eテラヘルツ波|テラヘルツ時間領域分光|イメージング|熱老化|低密度ポリエチレン|架橋ポリエチレン|terahertz wave|terahertz time domain spectroscopy|imaging|thermal aging|low-density polyethylene|cross-linked polyethylene\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e絶縁体中の異物として過熱部の検出可能性を検討するために，過熱したXLPEを0.5mm角～10mm角に切り出してLDPEシートで挟み，THz吸収分光によって吸収スペクトルを透過測定し，さらにイメージングによって吸収強度の分布を可視化した。その結果，過熱部の大きさと熱処理時間の増加に伴い，0.5～5.0THzの吸収が増加し，さらにイメージング像においては過熱部の大きさと位置を検出できることを確認した。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(英語): \u003c\/strong\u003eA cross-linked polyethylene sheet was overheated and cut to many pieces of squares with various sizes. Then, each piece was sandwiched between two sheets of low-density polyethylene and its absorption intensity was measured at terahertz (THz) frequencies. Furthermore, the spatial distribution of absorption was measured in the form of a two-dimensional image by scanning the sample. As a result, it has become clear that the whole absorption increases in a range from 0.5 to 5.0 THz when the volume of overheated part becomes bigger. Moreover, the distribution of overheated parts can be visualized by the THz absorption imaging.\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e1,344 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 6","offer_id":46362911047919,"sku":"IEEJ-EWC16014-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_4244615c-cbb0-4d33-b9f6-6eba5833ac67.png?v=1743644242","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-ewc16014","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}