{"product_id":"ieej-hv05063","title":"MT 法による受配電機器絶縁物の劣化診断","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eHV05063\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【B】電力・エネルギー部門　高電圧研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2005\/11\/10\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eDegradation diagnosis of the insulators for the powerbdistribution equipments Using the Mahalanobis-Taguchi Method\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e三木 伸介士(三菱電機(株) ),岡澤周 (三菱電機(株) )\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eShinsuke Miki(Mitsubishi ElectricCorp.),Hiroshi Okazawa(Mitsubishi ElectricCorp.)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e絶縁劣化|診断|フェノール樹脂|マハラノビス・タグチ法|化学的評価\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e943 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 9","offer_id":46393511051503,"sku":"IEEJ-HV05063-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_502618a1-874b-404d-bba5-b0b805dcb068.png?v=1744693643","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-hv05063","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}