{"product_id":"ieej-hv06024","title":"ケーブル端末用EPゴム表面の架橋方式の違いにおける部分放電劣化特性の検討","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eHV06024\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【B】電力・エネルギー部門　高電圧研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2006\/01\/27\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eInvestigation of partial discharge degradation characteristics in different cross-linked types of ethylene-propylene rubber used for cable terminal\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e川野 勝範(九州工業大学),Yanuar Z. Arief (九州工業大学),大塚信也 (九州工業大学),浦辺 裕二(株式会社フジクラ),木村 健(九州工業大学),匹国 政幸(九州工業大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eKatsunori Kawano(Kyushu Institute of Technology),Yanuar Z. Arief (Kyushu Institute of Technology),Shinya Ohtsuka(Kyushu Institute of Technology),Yuji Urabe(Fujikura Ltd.),Ken Kimura(Kyushu Institute of Technology),Masayuki Hikita(Kyushu Institute of Technology)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e電力ケーブル| 端末| 接続部| 部分放電| EPR| 架橋方式| 充填剤\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e1,400 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 10","offer_id":46393563021551,"sku":"IEEJ-HV06024-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_3899172d-9b8e-4dc7-adc6-47c0b1fbf040.png?v=1744697033","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-hv06024","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}