{"product_id":"ieej-iic07117","title":"コンタクトモードAFMにおける表面形状学習型オブザーバの提案","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eIIC07117\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【D】産業応用部門　産業計測制御研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2007\/09\/14\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eProposal of Surface Topography Learning Observer for Contact Mode AFM\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e大島 隆史(横浜国立大学),藤本 博志(横浜国立大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eTakashi Oshima(Yokohama National University),Hiroshi Fujimoto(Yokohama National University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e原子間力顕微鏡|ディジタル外乱オブザーバ|表面形状学習型PTC|モデル化|Atomic Force Microscope|digital disturbance observer|Surface Topography Learning with PTC|modeling\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e722 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 9","offer_id":46361850740975,"sku":"IEEJ-IIC07117-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_ee27aaec-d0b2-4bd0-9edd-e2996bf3c470.png?v=1743615081","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-iic07117","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}