{"product_id":"ieej-ip05009","title":"単眼カメラによる高精度3D計測法の提案と電子部品検査","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eIP05009\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【C】電子・情報・システム部門　情報処理研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2005\/05\/27\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eProposal of Precise 3D Measurement Method with A Single Camera and Its Application to Electronic Device Inspection\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e渡辺 隆(中京大学情報科学部),藤原 孝幸(中京大学情報科学部),輿水 大和(中京大学情報科学部)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eTakashi Watanabe(SCCS,Chukyo University),Takayuki Fujiwara(SCCS,Chukyo University),Hiroyasu Koshimizu(SCCS,Chukyo University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e電子部品| 画像処理| ステレオ計測| 検査アルゴリズム\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e1,308 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 9","offer_id":46361643385071,"sku":"IEEJ-IP05009-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_02116a21-11d4-4d5c-8baa-a7d3f4fbb82e.png?v=1743609274","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-ip05009","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}