{"product_id":"ieej-ip06011","title":"テスト特徴法に基づく逐次パタン学習とその時系列認識問題への応用","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eIP06011\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【C】電子・情報・システム部門　情報処理研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2006\/08\/11\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eSuccessive pattern learning based on test feature classifier and its application to dynamic recognition problems\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e坂田 幸辰(北海道大学大学院情報科学研究科･日本学術振興会特別研究員 DC),金子 俊一(北海道大学大学院情報科学研究科),田中 孝之(北海道大学大学院情報科学研究科)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eYukinobu Sakata(JSPS Research Fellow,Graduate School of Information Science and Technology Hokkaido Univ.),Shun'ichi Kaneko(Graduate School of Information Science and Technology Hokkaido Univ.),Takayuki Tanaka(Graduate School of Information Science and Technology Hokkaido Univ.)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eパタン認識|テスト特徴法|逐次学習|時系列認識問題\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e1,192 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 9","offer_id":46361700073711,"sku":"IEEJ-IP06011-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_15415d2e-772d-4cdf-bd7c-783fd98d06ac.png?v=1743612618","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-ip06011","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}