{"product_id":"ieej-ip06023","title":"材料内部の変形・破壊特性評価のための3 次元画像解析","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eIP06023\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【C】電子・情報・システム部門　情報処理研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2006\/08\/12\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003e3D Image Analysis for Evaluating Internal Defonnationl Fracture Characteristics of Materials\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e中津 満(芝浦工業大学),青木 義満(芝浦工業大学),川井 祐児(豊橋技術科学大学),小林 正和(豊橋技術科学大学),戸田 裕之(豊橋技術科学大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eMitsuru Nakazawa(Shibaura Institute of Technology),Yoshimitsu Aoki(Shibaura Institute of Technology),Yuji Kawai(Toyohashi University of Technology),Masakazu Kobayashi(Toyohashi University of Technology),Hiroyuki Toda(Toyohashi University of Technology)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eX 線CT| 材料組織| 変形破壊特性| マッチング\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e929 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 8","offer_id":46361705775343,"sku":"IEEJ-IP06023-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_7e4edb7e-f655-4087-a9d5-9aaa464afa97.png?v=1743612668","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-ip06023","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}