{"product_id":"ieej-ip06027","title":"単眼ステレオ計測法を用いた端子リード検査","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eIP06027\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【C】電子・情報・システム部門　情報処理研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2006\/08\/12\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eTerminal Lead Inspection Method by Single Camera Stereo Measurement System\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e渡辺 隆(中京大学),草野 アキラ(中京大学),藤原 孝幸(中京大学),輿水 大和(中京大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eTakashi Watanabe(Chukyo University),Akira Kusano(Chukyo University),Takayuki Fujiwara(Chukyo University),Hiroyasu Koshimizu(Chukyo University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e平坦度検査| 端子リード| 単眼ステレオ計測| 画像処理| 計測アルゴリズム\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e1,452 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 8","offer_id":46361707315439,"sku":"IEEJ-IP06027-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_dc0a7ddc-cc09-4d86-9256-40a39aad68df.png?v=1743612689","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-ip06027","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}