{"product_id":"ieej-ip06028","title":"近傍整合性の累積評価に基づく回転照合法と欠陥点群分布照合への応用","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eIP06028\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【C】電子・情報・システム部門　情報処理研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2006\/08\/12\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eRobust Registration of Defect Set by Local Consistency of Point Data\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e浦野 貴裕(北海道大学大学院情報科学研究科システム制御情報学研究室),金子 俊一(北海道大学大学院情報科学研究科システム制御情報学研究室),田中 孝之(北海道大学大学院情報科学研究科システム制御情報学研究室),前田 俊二(日立製作所生産技術研究所),渋谷 久恵(日立製作所生産技術研究所),吉田 実(日立製作所生産技術研究所)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eTakahiro Urano(Graduate School of Information Science and Technology,Hokkaid Univ.),Shun'ichi Kaneko(Graduate School of Information Science and Technology,Hokkaid Univ.),Takayuki Tanaka(Graduate School of Information Science and Technology,Hokkaid Univ.),Shunji Maeda(Production Engineering Research Laboratory,Hitachi,Ltd.),Hisae Shibuya(Production Engineering Research Laboratory,Hitachi,Ltd.),Minoru Yoshida(Production Engineering Research Laboratory,Hitachi,Ltd.)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e点群照合| 欠陥検査| ロバスト性| LCPD\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e689 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 6","offer_id":46361707348207,"sku":"IEEJ-IP06028-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_97e24c15-b6a6-4428-b79f-d6c2c281def8.png?v=1743612692","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-ip06028","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}