{"product_id":"ieej-ip07002","title":"単眼視ステレオ法を用いた端子リード変形欠陥検出法の実用化","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eIP07002\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【C】電子・情報・システム部門　情報処理研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2007\/02\/24\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003ePractical Use of Method for Deformation Defect Inspection of Terminal Lead by Single-Camera-Stereo Measurement System\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e草野 洸(中京大学),渡辺 隆(中京大学),藤原 孝幸(中京大学),輿水 大和(中京大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eAkira Kusano(Chukyo University),Takashi Watanabe(Chukyo University),Takayuki Fujiwara(Chukyo University),Hiroyasu Koshimizu(Chukyo University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e平坦度検査|端子リード|単眼ステレオ計測|画像処理|計測アルゴリズム|Flatness inspection|Terminal lead|Single camera stereo measurement|Image processing|Measurement algorithm\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e649 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 9","offer_id":46361894945007,"sku":"IEEJ-IP07002-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_84cc7034-b756-4456-ab3c-222b23690f3f.png?v=1743615754","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-ip07002","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}