{"product_id":"ieej-ip07014","title":"特徴ベクトルの出現頻度を用いた欠陥検出と分類","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eIP07014\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【C】電子・情報・システム部門　情報処理研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2007\/08\/11\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eDefect Detection and Classification Using Frequency of Feature Vectors\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e柏木 利幸(徳島県立工業技術センター),大恵俊一郎 (徳島大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eToshiyuki Kashiwagi(Tokushima Prefectural Industrial Technology Center),Shunichiro Oe(Tokushima University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e欠陥検出|特徴空間|頻度|コントラスト|欠陥分類|カラー|ヒストグラム|Defect Detection|Feature Vector Space|Frequency|Contrast|Defect Classification|Color|Histogram\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e826 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 8","offer_id":46361896911087,"sku":"IEEJ-IP07014-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_cb564d95-8f1f-4c44-9ebf-ce05c7c7f029.png?v=1743615809","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-ip07014","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}