{"product_id":"ieej-ip07016","title":"共起ヒストグラム画像による広範囲分布欠陥の認識","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eIP07016\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【C】電子・情報・システム部門　情報処理研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2007\/08\/11\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eRecognize of Wide-spread Defect Using Co-occurrence Histogram Image\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e伊賀 哲平(香川大学),田中 崇輝(香川大学),林 純一郎(香川大学),秦 清治(香川大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eTeppei Iga(Kagawa University),Takateru Tanaka(Kagawa University),Jun-ichiro Hayashi(Kagawa University),Seiji Hata(Kagawa University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e共起ヒストグラム画像|欠陥分類|外観検査|ニューラルネットワーク|画像処理|Co-occurrence Histogram Image|Defects Classification|Visual Inspection|Neural Network|Image Processing\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e763 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 8","offer_id":46361897926895,"sku":"IEEJ-IP07016-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_ef5e30a8-eb25-45b2-a6fd-9e5a5d9fae7c.png?v=1743615816","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-ip07016","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}