{"product_id":"ieej-ip07021","title":"テーブル参照による多波長レーザ光干渉像からの3次元形状抽出","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e研究会(論文単位)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003eIP07021\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【C】電子・情報・システム部門　情報処理研究会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2007\/08\/11\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003e3D shape extraction using multi wavelength laser light interference images by table look up method\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e野村 将史(香川大学),林 純一郎(香川大学),高橋 悟(香川大学),石丸 伊知郎(香川大学),秦 清治(香川大学),森本 茂明(隆祥産業),舩津俊一 (シーマイクロ)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eMasashi Nomura(Kagawa University),Jun-Ichiro Hayashi(Kagawa University),Satoru Takahashi(Kagawa University),Ichiro Ishimaru(Kagawa University),Seiji Hata(Kagawa University),Shigeaki Morimoto(Ryusyo Sangyo Company),Syun-ichi Hunathu(Cmicro Company)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e微小形状計測|マイケルソン干渉計|正規化相関法|最小自乗法|コードテーブル|Measuring the shape of micro object|Michelson interferometer|Regularized correlation matching method|Least square method|Look-up table\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e502 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格330円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 7","offer_id":46361899663599,"sku":"IEEJ-IP07021-PDF","price":330.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_08080bb8-bac8-4d13-9e2f-71f01bd314dc.png?v=1743615844","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-ip07021","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}